Microscópio LeicaDM12000MUsando o princípio óptico, a amostra medida é colocada em uma plataforma de observação no microscópio e a imagem da amostra é ampliada para os óculos do microscópio, refletindo ou transmitindo luz. Sob a propriedade da amostra de dispersão e absorção de luz, o fenômeno da imagem da amostra durante a imagem muda constantemente com a mudança dos parâmetros. O observador pode avaliar a microestrutura e o tecido da amostra com base nesta mudança.

Características do microscópio Leica DM12000M:

Um novo design óptico que oferece inspeção inicial rápida em modo macro e função de rota ultravioleta inclinada (OUV, modo de observação ultravioleta inclinada), que não só melhora a resolução, mas também melhora a capacidade de inspeção de placas de silício de 12 polegadas (300 mm). A nova tecnologia de iluminação LED foi concebida e integrada no microscópio, com baixa radiação térmica e tecnologia integrada no fuselagem para garantir o estado ideal de fluxo de ar fora do fuselagem.

O microscópio Leica DM12000M reduz o tempo de inspeção e aumenta a eficiência da inspeção Acessórios de foco automáticoAcessórios de foco automático para a iluminação de inspeção de luz transmissível podem ser compatíveis com todos os métodos de observação de iluminação refletida, inclusive a observação de campo de visão escura e interferência diferencial. O foco automático é rápido e preciso, e o foco é encontrado com precisão em tempo real, mesmo quando a observação muda.

Três, dois dispositivos de iluminação opcionais, tipo universal e tipo de abertura numérica alta. Para FPD, a inspeção da placa MASK fornece a iluminação adequada e pode ser equipada com um espelho polarizador para uma fácil observação polarizada da luz projetada. Alta contraste, maior resolução, maior magnificação de inspeção para a inspeção de resíduos de fotogravura Módulo de espectroscópio de fluorescência para a observação de fluorescência O sistema óptico UV pode fornecer maior contraste e resolução, com resoluções de até 0,12 μm.

Disponibilidade de vários métodos de fluorescência, como U.B.G, para resíduos de cola de partículas ópticas e inspeção OLED. Interface de comunicação conveniente para o controle e parâmetros da ampliação do microscópio e apendice de abertura Obter o RS232C para a inspeção interna de wafers e dispositivos e até mesmo pés de solda Os acessórios de observação de infravermelho próximo incluem uma interface RS232C que permite controlar a parte elétrica do microscópio com um PC e permite que vários microscópios na linha de processo trabalhem no mesmo estado de configuração.

5, incluindo objetivos especiais de infravermelho e outros acessórios, para corrigir a desvantagem da luz visível para a banda de infravermelho próximo, para inspeção profunda ou interna do IC, pode alcançar a inspeção completa do WAFER BUMP.

O design de poupança de energia de baixo consumo prolonga significativamente a vida útil, de acordo com o conceito de proteção ambiental verde. O design de manipulação com um clique permite que o usuário faça facilmente a conversão de ampliação e os efeitos de iluminação e de alinhamento associados.