
Nasceu uma linha de produtos com policapilares com foco de raios X recém-desenvolvido. Além disso, a estrutura de detecção de raios X é centrada na otimização de vários componentes, o que melhora significativamente a sensibilidade da detecção e a alta capacidade de processamento alcançada sem perder a precisão da detecção. Além disso, o equipamento foi redesenhado para facilitar o uso da sala de amostras e a inspeção dos pontos de detecção.
Detecção de alta precisão no campo da microscopia
Através da adoção de um novo policapilar desenvolvido e da otimização do detector, a capacidade de processamento foi aumentada ainda mais do que o dobro com base na realização de um raio de exposição equivalente ao modelo FT9500X antigo de 30 μm (FWHM concebido: 17 μm).
2. linha de produtos adaptados a vários tipos de amostras de teste
Para diferentes tipos de amostras de teste, você pode escolher entre os 3 modelos abaixo.
· Modelos de microcomponentes e filmes ultrafinas para medição de vários tipos de componentes eletrônicos, como suportes de cabos, conectores e outros
· Capaz de lidar com tamanhos deModelo para placas de circuito impresso grandes de 600 mm x 600 mm
· Adequado para partes de eletrodos de chips de cerâmica que eram difíceis de medir simultaneamente no passadoModelo para medição de alta energia em duas camadas Sn/Ni
Equilibrar facilidade operacional e segurança
A abertura é ampliada e a porta da sala de amostras pode ser facilmente aberta e fechada com uma única mão. Isso melhora a facilidade de extração e colocação de amostras de teste, e a estrutura de vedação reduz significativamente o risco de vazamento de raios-X, proporcionando ao usuário segurança de uso.
A área de teste é visível
Ao configurar grandes janelas de observação e modificar o layout dos componentes, a porta da câmara de amostras também pode ser facilmente observada no estado fechado.
Imagem de amostra clara
Usando uma câmera de observação de amostras com maior resolução do que nunca, o zoom totalmente digital elimina o desvio de posição e permite uma visão clara de pequenas amostras de dezenas de μm.
Além disso, o LED também é usado como uma lâmpada de observação de amostra, sem a necessidade de substituir a lâmpada como os modelos anteriores.
Nova GUI
Todos os tipos de métodos de teste e amostras de teste foram registrados na forma de ícones de aplicativos. Os ícones são fotos de amostras de detecção, ícones de múltiplas camadas de película, etc., por isso, o registro e a organização são convenientes, de modo que o usuário pode fazer a detecção diretamente sem curvas.
Use a janela do assistente de detecção para orientar as ações. Liderando com a tela de detecção, orienta gradualmente o usuário para realizar o trabalho atualmente necessário.
| Modelo | FT150 (padrão) | FT150h (tipo de alta energia) | FT150L (para placas de circuito grandes) |
|---|---|---|---|
| Elementos de medição | Números atômicos 13 (Al) a 92 (U) | ||
| Fonte de raios X | Tensão do tubo: 45 kV | ||
| Motarget | Walvo | Motarget | |
| Detectores | Detector de semicondutores Si (SDD) (sem nitrogênio líquido) | ||
| Foco de raios X | Método de condutor de foco | ||
| Observação de amostras | Câmera CCD (1 megapixel) | ||
| Foco | Foco a laser, foco automático | ||
| Tamanho máximo da amostra | 400(W) × 300(D) × 100(H) mm | 400(W) × 300(D) × 100(H) mm | 600(W) × 600(D) × 20(H) mm |
| Itinerário da mesa de trabalho | 400(W) × 300(D) mm | 400(W) × 300(D) mm | 300(W) × 300(D) mm |
| Sistema operacional | Computador, ecrã LCD de 22 polegadas | ||
| Software de medição | Método FP de película fina (até 5 camadas, 10 elementos), linhagem de inspeção, análise qualitativa | ||
| Tratamento de dados | Instalação do Microsoft Excel, Microsoft Word | ||
| Funções de segurança | Bloqueio da porta da amostra | ||
| Consumo de energia | Abaixo de 300 VA | ||
Opções de compra
Software de correspondência espectral (reconhecimento de materiais)
BlocoFP (medição da composição metálica)
Configurações de limite de operação da amostra
Acessórios de wafer (FT150/FT150h)
Painel de toque
Luz de sinal
Impressora
Caixa de interrupção de emergência
- Medidor de espessura de revestimento fluorescente de raios X de alto desempenho série FT150
O FT150 utiliza um feixe de raios-X de alta intensidade com diâmetro de irradiação de 30 µm gerado por policapilares e é ideal para avaliações analíticas de alta precisão de peças pequenas, como suportes de fios, conectores microscópicos, placas de circuito flexíveis e revestimentos ultrafinos.
